期間 : 2018年6月20日(水)~22日(金)
10:00~18:00(最終日は17:00)まで
会場 : 東京ビッグサイト(当社の小間番号:東3ホール ブースNO.東19-6)
当社は三次元測定ブースに出展します。OGP/QVI社製光学式三次元測定機の展示に加え、本機でデジタイジングを行うことで従来のデジタイザを覆す高精度での測定点群の取得と、充実した支援ソフトウェアによる「形状評価・解析」、「幾何公差評価」をご提案します。また20日(水)11:00より幾何公差を使用した製造ソリューションセミナーを開催いたします。皆様のご参加をお待ちしています。
セミナーのご案内
日時 : 2018年6月20日 11:00~12:00
場所 : 東京ビッグサイト 東2ホール 2階 会場②
出展機のご紹介
KOTEM/QVI社製 測定ソフトウェア群
〇 EVOLVE Design
幾何公差定義の矛盾や規格の違反を見つけ出し、ガイドに従って修正をすることで、幾何公差への理解を深めることができます
〇 EVOLVE SmartProfile
様々な測定機(CMM・X線CTスキャナなど)により出力された点群データをCADモデル上に割り当て、幾何公差を自動的に判定します
〇 EVOLVE Manufacturing
設計データと製造データに基づいて、評価結果をグラフィックで比較し加工機械を補正するための適切な情報を示します
OGP/QVI社製 光学式三次元測定機 Smart Scopeシリーズ
● Smart Scope VANTAGE250
レーザ式検出センサ テレスターTTLレーザ搭載
高精度、高速、マルチセンサ測定に特化した、Smart Scopeシリーズのハイエンドモデルです。テレセントリック光学系により鮮明な画像処理が可能です。
最大の特徴は、優れた追従能力をもつ「テレスター TTLレーザ」の高精度レーザ測定です。垂直入射方式の為遮蔽にも強く、従来のレーザユニットよりも更に広範囲のアプリケーションに対応します。
● Smart Scope ZIP600
接触式検出センサ スキャニングプローブ搭載
広範囲の測定が可能であると同時に、開発段階から「マルチセンサ測定」(画像・レーザ・タッチプローブ等複数のセンサを併用した複合測定)を想定したグラナイト定盤を採用しており、ステージ剛性・耐振性が強化されたモデルです。
大型ワークのマルチセンサ測定や小型パーツの連続測定に最適です。
同時開催の機械要素技術展(当社の小間番号:西1ホール ブースNO.西10-1)にも出展しております。合わせてのご来場をお待ちしております